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microscope(TEM) 과 주사전자현미경 scanning electron microscope(SEM)을 통해 확인
나노 복합체의 PS를 확인하는 방법
1. IR : B-M-0.03-P
PS와 비교하여 MMT가 포함되어 있는지 확인
(but 양이 작은 관계로 peak가 약함)
2. TEM : B-M-0.03-P (MMT의 박리된 모습을 눈으로
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scanning electron microscope)을 사용하여 관찰하였다.
(a) 0.2% GA 상등액
(b) 0.2% GA 상등액 중화
(c) 0.2% GA 상등액 + 10-3 PGMS
(d) 0.2% GA 상등액 + 10-3 PGMS 중화
Figure. 1. 1. 나노키토산의 사진
2. Glutamic acid에서의 solubility
3. PGMS micellization
4. 잔류량 test
5.
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scanning microscope)
5) cleaner
② ER (Electrorheological Fluid, ER fluid)
* 원리 및 특징
* 응용사례
참고문헌
2. 결과보고서
1) Piezo Beam
(1) Beam specification
① Natural frequency and damping ratio
a) Half Power Bandwidth (
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scanning tunneling microscope)에 의하여 사진을 찍을 수 있다. STM은 정밀하게 위치를 잡아놓은 작은 점과 물질표면의 원자사이를 흐르는 전류를 측정하는 방법으로 작동한다. STM으로 찍은 사진은 물질 표면의 원자를 하나하나를 볼 수 있을 정도로
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microscope)
(10)윤곽투영기( profile projector)
[2]gauge
(1)표준 gauge(standard gauge)
(2) 한계 gage(limit gage)
3장 각도 측정
[1] 각도측정기
(1) 각도 gage(angle gage block, angle block, angle gage)
(2) 분도기, 만능분도기 및 직각자
(3) 수준기(level)
(4)
측정, 측정의 종류와 특징,
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Microscope) ; 표면 거칠기(RMS, Rq) 측정
- , : 증착 / : 오존처리 후 스핀코팅으로 진행
Result
&
Discussion
- AFM (Atomic Force Microscope, 원자간력현미경) :
탐침과 샘플 사이의 원자힘을 사용하여 샘플 표면 측정
AFM의 Mode로는 접촉모드(contact mode), 비접촉모
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・Scanning Electron Microscopy)
이론
TEM (투과전자현미경・Transmission Electron Microscopy)
원리
구조
SEM, TEM 비교
AE(ACOUSTIC EMISSION)
원리
AE 검출법의 장점
활용
EPMA(Electron Probe Micro Analyzer)
원리와 구성
* EPMA의 특징
출처
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probe 의 수직 tip 위치에 (즉 일정하게 흐른 전류보다는 probe와 지속적인 열 흐름을 유지하기 위해 샘플 사이의 거리) 맞춰났다. 이런 작동 모드는 열을 주지 않으나 표면의 형태 이미지를 제공한다. 열지도를 작성하기 위해 샘플이나 tip은 데워
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microscope (n) 현미경
bear (v) 견디다, 떠맡다
proceeding (n) 소송, 절차
minimal (a) 아주 적은
burden (v) 짐을 나르다
landfill (n) 매립지
uphold (v) 옹호하다
abstract (n) 추상화
goddess (n) 여신
portrait (a) 세로 방향의
renaissance (n) 부흥, 부활
soar (v) 급등하다
illustra
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그 각도가 정면을 향하는 경우 중력으로 포획되는 대신 핵을 선회 후 속도가 줄지 않고 시료 밖으로 다시 튀어나가는 전자를 후방 산란 전자(BSE) 라한다. 검출기가 전자의 이동 경로 상에 위치하며 모든 원소는 원자핵의 크기가 다르며, 커질
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